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国家标准《纳米薄膜厚度测量方法》审查会顺利召开
来源：科技管理部 发布时间：2014-05-14近日，由中国建筑材料科学研究总院（以下简称总院）、中国建材检验认证集团股份有限公司（以下简称CTC）会同有关单位编制的国家标准《纳米薄膜厚度测量方法》标准审查会在北京顺利召开。
会议由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料标准化技术委员会组织。全国纳米技术标委会副主任委员葛广路、副秘书长王孝平、总院办公室主任张继军、科技发展部项目主管王敬敏、CTC技术质量部部长张庆华参加了会议；来自生产、检测、科研用户等单位的20余人参加了会议，会议由分委会秘书长戴石锋主持。会议确定成立了由电子科技大学能源科学与工程学院向勇副院长为组长的标准审查专家组。
会上，标准主要起草人刘静、孟政向与会代表介绍了《纳米薄膜厚度测量方法》标准制定的内容、编制依据以及试验验证情况。审查专家对标准送审稿进行了认真审查后认为，标准起草组进行了大量深入细致的研究，在起草过程中广泛收集、查阅了国内外相关标准及技术资料，进行了认真、仔细的调研和试验验证工作，测试方法科学、合理，验证试验数据充分，提交会议审查的资料齐全、数据真实可靠。该标准基于我国纳米薄膜实际测量综合水平和产业应用需求，参照了国内外相关标准，与会专家一致认为该标准达到国际一般水平。
玻璃通过镀膜可以拥有新的或不同的功能，膜厚的测量对镀膜玻璃功能的控制有重要作用。本标准的制定，首次提出了使用触针式轮廓仪测量玻璃表面纳米薄膜厚度的方法，对通过控制膜厚来影响镀膜玻璃的性能具有重要意义，同时有助于化解平板玻璃行业产品过剩的现状，并对推动行业健康发展起着积极作用。
